Tandem-SIMS mit FIB zur simultanen Erfassung von Kationen und Anionen

  • Supplier: Hiden Analytical
  • Author: Hiden Analytical
  • Published: 12 April 2018
  • Copyright: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
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Für die Untersuchung von Elektrodenmaterial bei Energiespeichern, insbesondere von Festkörper-Li-Ionen-Akkus, ist SIMS die Methode der Wahl. Für die atomgenaue Analyse der Vorgänge an den Oberflächen sowie bei der Entstehung von Dendriten gibt es jedoch eine Einschränkung: Unterschiedliche Ladungspolarität der Sekundär-Ionen während des Experiments verursacht bei einer Umschaltung des Analysators jeweils eine Ablenkung des Primärstrahls und macht damit die Aufnahme des Bildes und des Tiefenprofils schwierig. Hiden Analytical schafft hier mit seinem neuen Tandem-SIMS Abhilfe: Das Instrument erlaubt die gleichzeitige, parallele Analyse derselben Fläche für positive und negative Ionen in einem Schritt. Die Möglichkeiten gehen weit über die Untersuchung von Lithium-Ionen-Akkus hinaus. So erlaubt es beispielsweise neue Ansätze bei der Untersuchung und Optimierung von Ionenprozessen, die an Oberflächen und in Grenzschichten von Festoxidbrennstoffzellen oder Feststoff-Elektrolysezellen stattfinden. Auch bei der technischen Planung neuartiger Legierungen kann das Gerät eingesetzt werden. Es erlaubt in operando die Untersuchung von oberflächennahem Sauerstoff sowie die Bewertung von Korrosions-Haarrissen.

Hiden Analytical
Vertr. f. Deutschland Vacua GmbH
Niedmannweg 13
882431 Kochel
Tel.: (08 857) 69 301
info@hiden.de
www.hiden.de

 

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